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- P-170臺階儀
P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。 P-170具有的圖案識別算法、增強的光學系統和的平臺，這了性能的穩定和系統間配方的無縫移植- 這是24x7生產環境的關鍵要求。
- 型號：P-170
- 更新日期：2023-07-24 ￥面議
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- P-17臺階儀
P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。
- 型號：P-17
- 更新日期：2023-07-24 ￥面議
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- P-7臺階儀
P-7臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
- 型號：P-7
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- D-600臺階儀
Alpha-Step D-600臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺階高度。 D-600還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D和3D測量。 D-600包括一個電動200毫米樣品卡盤和的光學系統以及加強視頻控制。
- 型號：D-600
- 更新日期：2019-07-22 ￥面議
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- D-500臺階儀
Alpha-Step D-500臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-500還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 D-500包括一個手動140毫米平臺和的光學系統以及加強視頻控制。
- 型號：D-500
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- KLA P-7探針式表面輪廓儀 P-7
Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數據存 儲、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領域中有著市占率。P-7 是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不斷迭代更新，集合眾多技術優勢。P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統 的成功基礎之上。
- 型號：KLA P-7
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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