Zeta-20臺式光學輪廓儀

產品描述

Zeta-20臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統。 該系統采用ZDot技術和Multi-Mode (多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。

Zeta-20的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學量測技術。ZDot測量模式可同時采集高分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。其他3D測量技術包括白光干涉測量、Nomarski干涉對比顯微鏡和剪切干涉測量。 ZDot或集成寬帶反射儀都可以對薄膜厚度進行測量。 Zeta-20也是一種顯微鏡，可用于樣品復檢或自動缺陷檢測。 Zeta-20通過提供的臺階高度、粗糙度和薄膜厚度的測量以及缺陷檢測功能，適用于研發及生產環境。

主要功能

采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光學器件的簡單易用的光學輪廓儀，具有廣泛的應用

可用于樣品復檢或缺陷檢測的高質量顯微鏡

ZDot：同時采集高分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像

ZXI：白光干涉測量技術，適用于z向分辨率高的廣域測量

ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數據

ZSI：剪切干涉測量技術提供z向高分辨率圖像

ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率

AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化

生產能力：通過測序和圖案識別實現全自動測量

主要應用

臺階高度：納米到毫米級別的3D臺階高度

紋理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度

外形：3D翹曲和形狀

應力：2D薄膜應力

薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度

缺陷檢測：捕獲大于1μm的缺陷

缺陷復檢：采用KLARF文件作為導航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置

工業應用

太陽能：光伏太陽能電池

半導體和化合物半導體

半導體 WLCSP（晶圓級芯片級封裝）

半導體FOWLP（扇出晶圓級封裝）

PCB和柔性PCB

MEMS（微機電系統）

醫療設備和微流體設備

數據存儲

大學，研究實驗室和研究所

還有更多：請我們聯系以滿足您的要求