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- F10-RT-Filmetrics膜厚測量儀
-Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統價格的一小部分，用戶就能進行低/高分析、確定 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。測量結果能被快速地導出和打印。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F10-HC-Filmetrics膜厚測量儀
-Filmetrics膜厚測量儀：以F20平臺為基礎所發展的F10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。
- 型號：F10-HC
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F10-AR-Filmetrics膜厚測量儀
Filmetrics膜厚測量儀:F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的儀器。 雖然價格大大低于當今絕大多數同類儀器，應用幾項技術， F10-AR 使線上操作人員經過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。
- 型號：F10-AR
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F3-sX系列Filmetrics薄膜厚度測量儀
Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內完成。
- 型號：F3-sX系列
- 更新日期：2023-08-25 ￥面議
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- Film Sense FS-1FS-1單波長橢偏儀
Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可 靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就 可以獲得非常精密和的數據。
- 型號：Film Sense FS-1
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
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- F37Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀
Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果
- 型號：F37
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F10-RTFilmetrics薄膜測量儀
Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F10-RT使Filmetrics的分析能力實現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的鼠標就能夠產生在客戶是定波長范圍內，得出Z大與Z小的反射率與穿透率。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2024-09-04 ￥面議
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- F3-sXFilmetircs 光學膜厚測量儀
Filmetircs 光學膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。
- 型號：F3-sX
- 更新日期：2023-08-25 ￥面議
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