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美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統，具備12英寸×12英寸的測量區域，適用于多種樣品檢測。

型號：K系列

更新日期：2024-11-13

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B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。

型號：B系列

更新日期：2024-11-13

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借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的不受限制的測量點數量。此桌面系統只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。

型號：F54-XYT-300

更新日期：2024-07-24

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借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的測量點數量。此桌面系統只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。

型號：F54-XY-200

更新日期：2024-07-24

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HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。

型號：Auto SE

更新日期：2023-08-22

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HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，表征和分析的工具。

型號：Smart SE

更新日期：2023-06-06

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HORIBA 研究級經典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學測量技術，基于測量線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態發生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學性質等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。

型號：UVISEL Plus

更新日期：2023-06-06

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-Filmetrics光學膜厚測量儀：F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本多兩個位置）。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產裝置上。

型號：F32

更新日期：2024-07-24

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