手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測(cè)量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

　　每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道為接近核子，每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。

　　在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將較里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

　　手持式合金分析儀的主要特點(diǎn)：

　　可用于檢測(cè)碳鋼中的鉻含量，檢測(cè)精度可達(dá)到0.03%的含量 - 用于評(píng)估流速促進(jìn)型腐蝕(FAC)的情況。

　　可適應(yīng)高達(dá)800° F的檢測(cè)溫度。

　　可用于分析鐵基合金、鎳基合金、鈷基合金、銅基合金、鈦基合金、混雜合金。

　　可以十分有把握地識(shí)別各種復(fù)雜的合金，例如304與321， P91與9鉻，7級(jí)鈦與純鈦。

　　對(duì)6061/6063鋁合金具有非凡的識(shí)別能力與分析效果。

　　便捷，友好的軟件界面：三種操作模式選擇，化學(xué)分析，等級(jí)鑒定和快速合格/不合格分類；

　　設(shè)計(jì)：尖嘴部分的設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)，便于使用在一些很難測(cè)試的地方或焊接點(diǎn)；

　　通用性：交流電源，便利的操作平臺(tái)，并可升級(jí)到個(gè)人電腦的桌面；

　　智能分析：對(duì)不規(guī)則或很小的樣品測(cè)試進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償，包括焊接點(diǎn)的細(xì)條、縫、拐角；

　　快速：2-3秒內(nèi)身份等級(jí)鑒定；

　　高效：無(wú)資源消耗及防止擴(kuò)散費(fèi)用，小型X-射線管技術(shù)消除了對(duì)付放射性材料的費(fèi)用和麻煩。